一种电子元器件质量检测方法

本发明公开了一种电子元器件质量检测方法，涉及电子元器件质量检测技术领域，利用初步检测单元，对电子元器件进行初步的检测采集，依次计算输出电子元器件的亮度均匀性综合指标LJ和缺陷检测指数QX，并利用修复模块对电子元器件进行缺陷修复，利用二次检测单元，对电子元器件进行修复后的检测采集，计算输出电子元器件修复后的修复后亮度均匀性综合指标LJnew和修复后平均亮度值LDavgnew，利用综合评估电子元器件质量单元，计算输出综合质量评估DZX，并评估检测修复措施的结果，本发明通过提高亮度均匀性检测的准确性、优化缺陷检测效果、完善综合质量评估体系，实现对电子元器件质量的全面、准确评估，为后续的质量改进工作提供有力支持。