基于启发式贪心算法的模拟电路测试激励生成方法

本发明公开了一种基于启发式贪心算法的模拟电路测试激励生成方法，对待测模拟电路进行缺陷建模得到缺陷仿真模拟电路，然后根据待测模拟电路的激励源设置搜索空间，将搜索空间等分得到若干个子搜索空间，取各子搜索空间的几何中心所在搜索点为初始点，根据每个初始点的可检测缺陷数量确定搜索起点，然后基于启发式贪心算法从搜索起点开始搜索测试激励，从而得到模拟电路所需的测试激励集。采用本发明可以有效提高模拟电路测试激励的生成效率。