一种用于电子行业自动光学检测系统中的图像去噪方法

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一种用于电子行业自动光学检测系统中的图像去噪方法
申请号:CN202411903262
申请日期:2024-12-23
公开号:CN119831885B
公开日期:2025-10-03
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种用于电子行业自动光学检测系统中的图像去噪方法,旨在高效去除图像噪声并保留细节。该方法包括以下步骤:首先,通过分块与相似性分组,将采集到的图像构建为多个相似组张量;其次,利用低秩张量分解对相似组张量进行空间和光谱特征的建模与处理;然后,通过三方向对数截断张量核范数(3TLogTNN)探索图像的全局低秩性,以抑制噪声并保持全局结构一致性;最后,构建优化目标函数,结合非局部双因子正则化器和全局正则化器,实现图像去噪和细节保留。该方法有效结合了非局部相似性与全局低秩特性,提升了图像去噪效果和算法效率,适用于多光谱图像和高精度检测场景,可广泛应用于电子行业的AOI系统中。
技术关键词
自动光学检测系统 图像去噪方法 图像去噪模型 正则化参数 全局正则化 图像块 矩阵 因子 原始图像数据 噪声抑制 切片 分块 索引 场景 算法
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