目标物缺陷识别方法、设备和系统

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目标物缺陷识别方法、设备和系统
申请号:CN202411910565
申请日期:2024-12-24
公开号:CN119850546A
公开日期:2025-04-18
类型:发明专利
摘要
本申请涉及目标物检测技术领域,具体涉及一种目标物缺陷识别方法、设备和系统及计算机可读存储介质。该目标物缺陷识别方法通过将目标物的初始图像信息和通过缺陷识别模型对图像信息进行初步识别后得到的缺陷位置信息进行分别处理,对初步识别结果进行显示,允许用户对初步识别后的缺陷识别结果进行校准和修改,得到校准和修改后的第二标识图像,将第二标识图像作为最终的缺陷识别结果,这种方式避免了现有技术中在缺陷识别模型识别结果不准确时,用户无法对目标物缺陷识别结果进行自主修改的问题,大大提高了缺陷识别结果的准确性和便利性。
技术关键词
缺陷位置信息 识别设备 缺陷识别方法 AI服务器 标识 图像 轨迹 缺陷识别系统 物检测技术 通信接口 可读存储介质 校准 显示屏 存储器 程序 处理器 坐标点 消息 计算机
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