一种瓷绝缘子缺陷检测方法、装置、设备及介质

本发明主要用于人工智能技术领域。本发明公开了一种瓷绝缘子缺陷检测方法、装置、设备及介质，该方法包括：基于待测绝缘子串的时序温度信息，生成待测绝缘子串对应的温度特征集，温度特征集包括第一特征集和第二特征集；构建位置预测模型，并利用第一特征集对位置预测模型进行训练；将第二特征集输入至训练后的位置预测模型，并通过训练后的位置预测模型确定待测绝缘子串的缺陷位置后得到输出结果；根据第二特征集和输出结果生成线性模型，并通过线性模型展示位置预测模型的输入特征与输出结果之间的关系。本申请能够利用热成像技术对瓷绝缘子进行检测，提高检测结果的准确率和可信度。