一种考虑过热影响的单晶合金蠕变寿命预测方法

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一种考虑过热影响的单晶合金蠕变寿命预测方法
申请号:CN202411912466
申请日期:2024-12-24
公开号:CN119354749B
公开日期:2025-03-07
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种考虑过热影响的单晶合金蠕变寿命预测方法,获取样品在不同过热温度下的材料参数;通过扫描电镜观测出样品过热后一次γ'相的体积分数以及二次γ'相的体积分数和半径;基于一次γ'相的体积分数计算基体通道宽度,并基于基体通道宽度以及材料参数,计算Orowan应力;基于二次γ'相与位错之间的相互作用、二次γ'相的体积分数和半径、剪切机制、Orowan机制,得到不同机制的临界分切应力,基于各临界分切应力的均值加权求和得到的临界分切应力总和值,转化得到析出强化值;基于Orowan应力、析出强化值以及经典高温合金塑性本构方程,计算出最小蠕变速率,进而基于蒙克曼‑格兰特关系式,构建蠕变寿命预测模型。
技术关键词
临界分切应力 蠕变寿命预测方法 寿命预测模型 剪切模量 机制 基体 扫描电镜 单晶高温合金 通道 泊松比 指数 速率 参数 方程 尺寸 表达式
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