多时钟域芯片调试方法、装置、电子设备、介质及程序

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多时钟域芯片调试方法、装置、电子设备、介质及程序
申请号:CN202411915645
申请日期:2024-12-24
公开号:CN119847838A
公开日期:2025-04-18
类型:发明专利
摘要
本发明实施例公开了一种多时钟域芯片调试方法、装置、电子设备、介质及程序,其中,方法包括:实时监测各目标待调试芯片的调试数据的当前数据状态;在根据各所述调试数据的当前数据状态确定所述调试数据满足至少一个交叉调试信号触发配置信息的情况下,将目标时钟域的调试数据发送至上位机进行软件调试;其中,所述交叉调试信号触发配置信息由多个不同时钟域的调试输出数据配置生成。本发明实施例的技术方案能够支持多个时钟域调试信号的异步捕获,进而提高多时钟域芯片的调试效率。
技术关键词
芯片调试方法 时钟 存储器模块 数据包头 电子设备 信号 可读存储介质 计算机程序产品 数据编码 处理器通信 软件 指令 策略
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