一种基于叠加工艺的芯片制版方法

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一种基于叠加工艺的芯片制版方法
申请号:CN202411925233
申请日期:2024-12-25
公开号:CN119720923A
公开日期:2025-03-28
类型:发明专利
摘要
本申请提供的一种基于叠加工艺的芯片制版方法,将集成式芯片中位于下方的ASIC顶层铝层合并到位于上方的MEMS底层铝层中,则用于将ASIC最顶层和MEMS最底层进行连接的ASIC顶层钝化开孔层就可以同步删除,调整尺寸后的顶层通孔将合并后MEMS底层铝层和ASIC次铝层进行连接,同样可以实现集成式芯片原有功能;基于本方法可以在原有的版图层数中减少2层制版层数,优化了工艺步骤,缩短了工艺流程周期,也降低了芯片的制造成本。
技术关键词
制版方法 版图 芯片 高阻器件 通孔 电阻器件 尺寸 阶段 端口 周期
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