芯片测试程序生成方法、装置、电子设备及存储介质

本发明涉及半导体测试技术领域，提供一种芯片测试程序生成方法、装置、电子设备及存储介质。首先根据测试需求信息，确定待测芯片的每个第一测试项目信息和/或每个第二测试项目信息；然后基于全部第一测试项目信息和通用库获得第一测试资源，和/或，基于全部第二测试项目信息和待测芯片对应的目标专用库获得第二测试资源；接着基于第一测试资源和/或第二测试资源，生成待测芯片的测试源代码；最后按照测试机类型对应的语法规则，对测试源代码进行编译校验，并在编译校验成功的情况下，获得测试源代码对应的可执行代码，得到待测芯片的测试程序。实现了测试程序的自动化生成，提升了测试程序的开发效率，并且保证了测试程序的可靠性和稳定性。