一种芯片筛选方法、装置、电子设备和存储介质

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一种芯片筛选方法、装置、电子设备和存储介质
申请号:CN202411929197
申请日期:2024-12-25
公开号:CN120033114A
公开日期:2025-05-23
类型:发明专利
摘要
本发明实施例提供了一种芯片筛选方法、装置、设备和存储介质,包括:根据其他芯片的测试信息和位置信息,确定待检测芯片对应的输入向量;将待检测芯片对应的输入向量输入至芯片检测模型中,得到检测结果;根据检测结果,确定待检测芯片是否为不良品,当待检测芯片为不良品时,输出警告信息,通过先确定晶圆中待检测芯片及其周围预设窗口内其他芯片的测试信息与位置信息,据此得出待检测芯片对应的输入向量,再将其输入芯片检测模型获取检测结果,进而依据结果判定待检测芯片是否为不良品,若为不良品则输出警告信息,能够及时发现不良品并发出警告,从而保障芯片质量,提高芯片筛选的准确性和效率。
技术关键词
检测芯片 芯片筛选方法 不良品 预测误差 芯片筛选装置 上存储计算机程序 编码器 样本 可读存储介质 处理器 电子设备 输入模块 输出模块 高风险 存储器 数值
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