基于OCT成像的盲孔内表面缺陷检测方法及系统

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基于OCT成像的盲孔内表面缺陷检测方法及系统
申请号:CN202411929646
申请日期:2024-12-26
公开号:CN119355000B
公开日期:2025-03-25
类型:发明专利
摘要
本发明属于缺陷检测技术领域。提供了一种基于OCT成像的盲孔内表面缺陷检测方法及系统,使得垂直沿盲孔轴中心方向进入的OCT探头倾斜设定的旋转角度;根据旋转角度、整个盲孔的深度、OCT探头的直径、OCT探头第一次完整扫描一周时0°扫描位置的深度信息、OCT探头第一次完整扫描一周时180°扫描位置的深度信息、当前深度下的0°扫描位置的深度信息,确定OCT探头到盲孔底部的距离;在OCT探头的当前位置的上下范围分别扫描L的距离范围,扫描完成后OCT探头继向前进,定位到下一个L的距离继续扫描,直至完成全部扫描,将扫描得到的图像进行拼接后进行盲孔内表面缺陷的检测,实现了OCT探头的精准定位。
技术关键词
OCT探头 表面缺陷检测方法 控制终端 表面缺陷检测系统 盲孔内表面 成像 盲孔内壁 机械臂 滑台 缺陷检测技术 盲孔表面 扫描面积 轴心 两次扫描 图像处理 运动
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