一种基于单片机PWM控制的gamma调试温控系统

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一种基于单片机PWM控制的gamma调试温控系统
申请号:CN202411930865
申请日期:2024-12-26
公开号:CN119759129A
公开日期:2025-04-04
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种基于单片机PWM控制的gamma调试温控系统,涉及屏幕gamma调试技术领域,该方法包括:上位机、单片机系统、TEC制冷片和温度传感器系统;单片机系统分别与上位机、TEC制冷片和温度传感器系统连接;上位机用于获取设定温度;温度传感器系统用于获取gamma调试时的环境温度;单片机系统用于根据环境温度与设定温度的差值生成PWM输出;TEC制冷片用于基于PWM输出对gamma调试时的温度进行调节。本申请通过设置单片机系统使单片机系统具有小型化的特点,同时降低了温度控制的成本。
技术关键词
芯片 温度传感器系统 PWM控制 场效应管 单片机系统 温控系统 电阻 RS485通信电路 H桥驱动电路 管脚电路 调试电路 工作指示灯 串口电路 晶振电路 TEC制冷片 三极管 电容 发光二极管
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