一种集成电路板的质量检测方法及系统

本发明涉及电路板检测技术领域，具体涉及一种集成电路板的质量检测方法及系统，方法包括：采集电路板的表面图像，预处理得到灰度图；遍历灰度图所有像素点，计算像素点的噪声系数；选取任一像素点作为中心像素点，确定从中心像素点预设邻域内各子邻域所选取的像素点个数，获取从各子邻域内选取的像素点中与中心像素点欧式距离最小的像素点，建立中心像素点进行滤波处理的邻域，并使用双边滤波算法对中心像素点进行滤波处理，得到处理图，对处理图进行冷焊缺陷检测。本发明通过使用自适应滤波算法，更有效地去除图像中的噪声，同时保留重要的边缘和细节信息，从而提高了采集图像的质量，使得后续对电路板质量检测更加准确。