一种电子元器件的加速寿命测试方法

本发明公开了一种电子元器件的加速寿命测试方法。包括以下步骤：首先，在预设寿命测试工况下，采集电子元器件寿命测试过程中不同预设寿命阶段的性能表征数据；然后，根据不同预设寿命阶段的性能表征数据，计算获得不同性能表征数据对应的差值曲线，从而获得当前电子元器件的所有差值曲线；接着，提取各差值曲线对应的预设目标寿命阶段特征，并建立特征集；最后，将特征集输入寿命预测模型，模型输出对应的寿命测试的预测结果。本发明能够显著减少电子元器件寿命测试消耗的时间成本和经济成本，提升电子元器件的研发效率。