用于异步半双工通信协议的芯片测试方法及装置、测试机台

本申请涉及芯片测试技术领域，公开一种用于异步半双工通信协议的芯片测试方法，包括：在芯片上电的情况下，发送测试指令和标准时长信号至芯片，以分别计算多个档位的内部时钟信号与外部时钟信号的偏差比例；其中，不同档位内部时钟信号与偏差比例一一对应；利用内部时钟对标准时长信号进行采样，获得用于动态校准的偏差数据；将多个外部输入协议帧的信号采样结果与预期偏差结果进行对比获取多组计算偏差值，并基于该数据计算平均偏差值；其中，多个偏差值结果为每次比对获得的单次协议帧偏差值；根据偏差比例、平均偏差值和协议帧信号的内部计数值，计算时钟偏差的修正值以校准时钟偏差。该方法可在芯片测试中校准时钟偏差。