一种基于SOC片上eNVM的管理固存坏块处理方法

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一种基于SOC片上eNVM的管理固存坏块处理方法
申请号:CN202411935597
申请日期:2024-12-26
公开号:CN119884018A
公开日期:2025-04-25
类型:发明专利
摘要
本发明涉及存储技术领域,具体涉及一种基于SOC片上eNVM的管理固存坏块处理方法。本发明公开了一种基于SOC片上eNVM的管理固存坏块处理方法,所述方法包括S1、建立eNVM坏块缓存区;S2、初始化配置;S3、NAND flash出厂坏块标记;S4、eNVM写入设定页数管理;S5、eNVM写时序;S6、eNVM读出设定页数管理;S7、eNVM读时序。本发明提供的管理固存坏块处理方法,基于SOC芯片的ARM+FPGA的架构,在SOC芯片上的非易失性存储器(eNVM)中存储坏块管理数据,既使得NAND flash的存储的可靠性提高,又相应的节约了NAND flash缓存资源以及其他的硬件成本。
技术关键词
坏块管理 状态机 时序 信号 接口模块 SOC芯片 标记 数据 待机 存储技术 处理器 协议 冗余 规划 存储器 资源
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