一种芯片开短路自动检测装置及方法

本发明涉及半导体测试设备技术领域，具体地说是一种芯片开短路自动检测装置及方法。包括单片机主控模块、ADC测量单元，所述的单片机主控模块一端连接交换机数据传输模块，交换机数据传输模块与操作显示屏相连接，单片机主控模块另一端连接ADC测量单元，ADC测量单元的测试通道设有继电器切换模组，继电器切换模组与单片机主控模块相连通，测试通道通过转接板与待测芯片相连接。同现有技术相比，通过采用更高效的测试方法和简化电路设计，实现了在保证测试准确性的同时，减少电路的复杂性。这种简化不仅提高了测试设备的可靠性，还降低了维护和升级的成本。另外实现的体积小型化，能够在保持测试性能的同时，减少设备的物理尺寸，使其更加紧凑和便携。