一种用于高压高功耗整流桥的陶瓷气密性封装结构

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一种用于高压高功耗整流桥的陶瓷气密性封装结构
申请号:CN202411937264
申请日期:2024-12-26
公开号:CN119943772A
公开日期:2025-05-06
类型:发明专利
摘要
本发明属于半导体封装技术领域,具体涉及了一种用于高压高功耗整流桥的陶瓷气密性封装结构,旨在解决现有的整流桥陶瓷封装通常采用引线键合封装形式,串联芯片无法实现封装尺寸的小型化的问题,本发明包括热沉盖板、整流桥二极管芯片、陶瓷外壳和陶瓷外壳引出端,将串联二极管芯片进行了堆叠,使得粘片区的面积缩小近一倍;二极管的阳极与陶瓷外壳通过焊料直接互连,二极管的阴极通过高热导率低电阻率粘接材料连接到热沉盖板,大幅降低了互连导通电阻;热沉盖板与陶瓷外壳通过共晶焊料焊接,使得器件满足气密封装,解决了芯片实现封装尺寸小型化的问题。
技术关键词
气密性封装结构 二极管芯片 陶瓷外壳 整流桥 高功耗 芯片焊接材料 热沉 金属化 高压 印制电路板 半导体封装技术 阳极 串联二极管 陶瓷封装 焊料 阴极 散热器
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