一种芯片测试管理平台

本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种芯片测试管理平台，平台包括，方案模块，用于设置测试目标、测试步骤和预期结果，形成测试方案；需求模块，连接方案模块，用于发起和管理测试需求，生成需求文档并将需求文档与测试方案相关联；阶段管理模块，连接需求模块，用于将测试方案的流程划分为多个测试阶段，每一测试阶段基于待测的芯片的特性进行适应性配置，生成阶段任务；测试模块，连接阶段管理模块，用于根据阶段任务模拟工作负载对芯片执行测试，输出测试结果。本发明通过自动化流程管理和模板化的测试流程设计，减少了人为操作的失误，确保了测试流程的标准化和一致性，大幅提升了测试效率。