一种芯片的验证方法、装置、设备及介质

本发明实施例公开了一种芯片的验证方法、装置、设备及介质，适用于芯片测试领域，该方法包括：采用形式化验证方法，基于所述芯片的浮点计算模块的数据路径描述，对所述浮点计算模块进行验证，直至达到设定验证完成条件为止；采用通用验证方法，基于测试用例对所述芯片的功能级模块的电路运行逻辑代码进行验证；其中，所述功能级模块包括至少两个浮点计算模块。本发明提供的技术方案，可以提高芯片验证的完备性，节约芯片验证的资源消耗。