一种日盲紫外成像光斑分析方法和系统

本申请涉及紫外成像检测技术领域，尤其涉及一种日盲紫外成像光斑分析方法和系统。方法包括：基于日盲式成像仪的不同增益，预先建立不同增益对应的ANFI S评估模型，用于基于光斑图像评估放电强度；S1、获取电气设备表面的光斑图像；S2、对光斑图像进行特征提取，确定光斑图像的发射辐射面积s和观测距离d；S3、基于日盲式成像仪对应的增益，将发射辐射面积s和观测距离d输入对应增益的ANFI S评估模型，用于评估电气设备表面的预测放电量q。系统包括日盲式成像仪，用于采集光斑图像，以便进行日盲紫外成像光斑分析。本申请综合考虑放电辐射区域、放电量、观察距离和成像仪增益等因素，运用ANFI S算法，构建精准的估算模型，实现对电晕放电量的精确估算。