上电检测电路及上电检测方法

本发明提供一种上电检测电路，其特征在于，包括：电源检测部，所述电源检测部从外部的电源输入外部电源信号，从芯片的内部电源输入比所述外部电源信号的电压要高的高电压信号，对所述高电压信号进行检测,得到与所述外部电源信号的电压相同的高电压检测信号；延迟部，所述延迟部对从所述电源检测部输入的所述高电压检测信号延迟规定时间，得到延迟电压检测信号；以及锁存部，所述锁存部从所述外部的电源输入外部电源检测信号，从所述延迟部输入所述延迟电压检测信号，对所述延迟电压检测信号进行锁存并输出最终检测信号。