绝缘子缺陷的联合检测方法、装置、电子设备以及介质

本申请涉及一种绝缘子缺陷的联合检测方法、装置、电子设备以及介质，其方法包括：获取待检测绝缘子的紫外图像，对紫外图像进行预处理，得到包含放电光斑区域的紫外预处理图像；获取待检测绝缘子的可见光图像，对可见光图像进行预处理以及特征值提取，得到可见光预处理图像和可见光图像特征值；基于紫外预处理图像，构建绝缘子的紫外放电光谱，并根据紫外放电光谱确定缺陷放电等级；基于紫外放电光谱和可见光图像特征值，紫外预处理图像和可见光预处理图像进行融合，得到融合图像以及绝缘子缺陷的位置信息；采用预训练好的绝缘子缺陷检测深度学习模型，对融合图像进行缺陷识别，得到绝缘子缺陷等级。本申请提高了劣化绝缘子的检测准确率。