一种晶振温度补偿自动化测试系统

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一种晶振温度补偿自动化测试系统
申请号:CN202411968219
申请日期:2024-12-30
公开号:CN119966349A
公开日期:2025-05-09
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种晶振温度补偿自动化测试系统,包括高低温测试设备、第一数量的温补晶振、相位测量模块、模数转换器、微控制器和数模转换器,其中:微控制器用于根据数字信号计算第一补偿参数;微控制器用于在相位差有效时采用温度补偿算法对相位差进行处理得到第二补偿参数,并将第一补偿参数和第二补偿参数相加得到第三补偿参数。本发明提供了一种晶振温度补偿自动化测试系统,用以解决现传统的测试方法中存在效率低和误差大的问题。
技术关键词
高低温测试设备 晶振温度补偿 温度补偿算法 微控制器 自动化测试系统 采集单元 温补晶振 数字频率计 数模转换器 模数转换器 参数 显示实时信息 同步测量方法 自动化测试方法 温度传感器 系统工作状态 卡尔曼滤波算法 制冷装置 热敏元件
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