一种针对集成电路耦合失效的分析方法及装置

本发明具体涉及一种针对集成电路耦合失效的分析方法，包括：构建环形振荡器电路；基于预设电源参数执行所述环形振荡器电路，获取对应的初始状态下的输出电压数据；将所述初始状态输出电压数据输入耦合失效模型，获取模型输出的耦合失效状态下的输出电压数据；其中，所述耦合失效模型基于NBTI效应的反应扩散模型和HCD效应的能量驱动模型构建；获取所述初始初始状态下的输出电压数据、耦合失效状态下的输出电压数据对应的第一振荡频率数据、第二振荡频率数据，并基于所述第一振荡频率数据、第二振荡频率数据确定电路频率性能的退化分析数据。本方法实现了对NBTI效应和HCD效应的失效机制进行联合分析。