存储装置测试方法及存储装置测试系统

本发明提供一种存储装置测试方法及存储装置测试系统。该方法包括：通过第一设备显示参数配置界面接收测试参数，并基于测试参数生成测试指令发送至第二设备。第二设备根据测试指令对存储装置执行测试任务，在执行期间生成包含测试执行状态信息的测试日志。测试完成后，第二设备将测试日志发送至第一设备进行解析，以确定各测试步骤的执行结果并识别异常状态。其中，第一设备在发送测试指令后即可执行其他工作，无需等待测试任务完成。本发明采用分布式架构设计，支持多存储装置并行测试和多第二设备协同工作，并采用分层分析策略实现异常快速定位，有效解决了传统测试方法中参数配置固化、响应延迟和分析效率低下等问题。