基于YOLO模型改进缺陷检测模型方法、缺陷检测方法与系统

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基于YOLO模型改进缺陷检测模型方法、缺陷检测方法与系统
申请号:CN202411975193
申请日期:2024-12-30
公开号:CN119919363A
公开日期:2025-05-02
类型:发明专利
摘要
一种建构改进的缺陷检测模型的方法、缺陷检测方法与缺陷检测系统,缺陷检测系统设有计算机主机,其中设有多个改进模块,通过处理模块执行基于YOLO模型建构改进的缺陷检测模型的方法,在方法中,先获取高密度互连印刷电路板的目标图像,对目标图像上的各种缺陷进行缺陷标注,并与缺陷类型的标签进行匹配,建立一缺陷图像数据集。接着选择YOLO模型作为目标对象检测模型,先通过改进模块得出YOLO模型的改进模型,运用缺陷图像数据集训练YOLO模型,建构针对高密度互连印刷电路板的改进的缺陷检测模型。
技术关键词
高密度互连印刷电路板 YOLO模型 缺陷检测系统 卷积模块 缺陷检测方法 对象检测模型 计算机主机 图像 标注软件 采样模块 照明光源 上采样 数据 格式 线扫描相机 多信道 药水 机制
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