测试场景恢复方法及相关装置

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测试场景恢复方法及相关装置
申请号:CN202411977866
申请日期:2024-12-30
公开号:CN119917352A
公开日期:2025-05-02
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供一种测试场景恢复方法及相关装置,其中所述测试场景恢复方法包括:获取基础测试用例以及待还原场景的日志文件;基于所述日志文件修改所述基础测试用例,得到重载用例;基于所述日志文件以及所述重载用例获取所述验证平台的测试业务;所述重载用例包括重载主运行阶段,所述重载主运行阶段运行的业务为所述测试业务;获取在验证平台上运行所述基础测试用例所使用的配置参数,并使用所述配置参数以及所述重载用例复现待还原场景;其中,复现待还原场景的过程包括运行所述基础测试用例的业务的主运行阶段;所述主运行阶段被重载为所述重载主运行阶段。可以完整模拟所述重载用例的运行,进而确保得到的待还原场景的准确性,便于直接定位所述待还原场景的问题,提高对芯片的测试效率。
技术关键词
测试场景 验证平台 恢复方法 恢复装置 阶段 日志 参数 基础 模块 队列 数据格式 计算机程序产品 存储芯片 指令 协议 存储器
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