一种芯片通用测试台

本实用新型涉及芯片生产测试领域，公开了一种芯片通用测试台，包括测试台架、芯片测试电路板和芯片限位机构，测试台架上端设置有可调位固定的测试固定板，测试固定板上设置有上下贯穿的第一测试窗口，芯片限位机构固定在测试固定板上与第一测试窗口对应位置，芯片限位机构内设置有可拆卸的限位芯片的芯片限位框，测试台架上测试固定板的下方设置有电路板限位机构，芯片测试电路板可拆卸的固定在电路板限位机构上并由电路板限位机构调整在水平方向和竖直方向上位置。测试不同的芯片，更换不同的芯片测试电路板和芯片限位框即可，无需每种类别芯片生成一种对应的整台测试台，有效节约了成本，提高了经济效益。