一种芯片测试治具

本实用新型涉及芯片生产测试领域，公开了一种芯片测试治具，包括测试台架、芯片测试电路板和芯片限位机构，芯片测试电路板固定在测试台架内部，测试台架上端面设置有限位凹台结构，限位凹台结构底部设置有与芯片测试电路板对接的测试对接模块，芯片限位机构包括设置在限位凹台结构内部的芯片限位框架和设置在测试台架上表面对芯片上表面进行限位的芯片上限位部件，限位凹台结构和芯片限位框架上对应设置有互相吸附的第一磁性件和第二磁性件，限位凹台结构的对应两侧设置有取放让位槽，芯片限位框架外侧壁下端与取放让位槽对应位置设置有取放让位凹台。更换芯片限位框架操作简单、方便快捷，有效提高小批量产品或者样品的检测效率。