一种芯片测试装置的透镜机构

本实用新型涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种芯片测试装置的透镜机构，它包括有竖直角度调节组件、LNS固定板和均布在LNS固定板上的多个LNS镜头；竖直角度调节组件上连接有水平角度调节组件；水平角度调节组件连接在LNS固定板上。在使用本实用新型时，通过水平角度调节组件和竖直角度调节组件配合调节实现LNS镜头与待测芯片同轴，能够获取更完整的芯片图像，降低芯片测试的误判的概率。