一种耗材芯片测试装置

本实用新型涉及耗材芯片测试技术领域，具体为一种耗材芯片测试装置，包括测试台，所述测试台上设有测试箱，所述测试箱的顶端设有滑轨，所述滑轨上设有电动滑块，所述电动滑块上设有L架，所述L架的底端设有推板，所述测试箱的一端开设有存放槽，所述存放槽与所述测试箱的另一端之间开设有T形槽，所述T形槽与所述测试箱的顶端之间开设有通槽，所述T形槽上设有滑板，所述滑板的一侧开设有定位槽，所述定位槽的底端开设有对接槽，所述滑板的另一侧开设有卡槽，本结构利用电动滑块、L架、推板等自动化组件来完成芯片的对接测试，减少了人工操作步骤，避免了传统手工放置芯片过程中可能出现的人为错误。