芯片多点测试机

本实用新型公开了芯片多点测试机，包括送料机构、测试装置、转移装置和识别装置；送料机构用于输送芯片；测试装置包括第一升降驱动机构、安装座和多个测试组件，多个测试组件环形阵列地安装于安装座上，第一升降驱动机构用于驱使安装座竖直升降；转移装置包括测试台和第一平移驱动机构，第一平移驱动机构用于驱使测试台在测试装置和送料机构之间往复移；识别装置包括识别相机，识别相机设于转移装置上方。测试装置可同时驱使多个测试组件靠近测试台上的待测试芯片为待测试芯片上的多个触点进行测试，有效地提高了芯片测试效率。多个测试组件呈环形阵列设置可以从不同的角度接触芯片上的触点，避免多个测试组件之间过于拥挤而不利于安装或使用。