一种数模混合芯片功能测试系统

本申请涉及一种数模混合芯片功能测试系统，应用在芯片测试技术领域，包括模拟测试单元、数字信号产生单元、模拟开关单元和被测单元；模拟测试单元用于提供电平信号和测试信号，对被测单元进行测试；数字信号产生单元连接于模拟测试单元，用于接收电平信号，并输出数字时序信号、控制信号和5V电压；模拟开关单元连接于数字信号产生单元，用于接收控制信号和5V电压，并根据控制信号控制数字信号产生单元与被测单元间的通断；被测单元连接于模拟开关单元和模拟测试单元，用于接收测试信号和数字时序信号，根据数字时序信号和测试信号进行测试。本申请具有的技术效果是：实现高精度测试，降低测试成本。