芯片测试防护装置

本申请涉及芯片测试技术领域，公开了一种芯片测试防护装置，包括：芯片测试板，用于匹配工作件进行芯片测试，所述芯片测试板至少设有第一卡槽及第二卡槽，所述第一卡槽与所述第二卡槽位于同一表面，且所述第一卡槽与所述第二卡槽位于同一水平位置；防护开关，设于所述第一卡槽与所述第二卡槽间，所述防护开关设有侦测器，当工作件插入至所述第一卡槽及所述第二卡槽后，连接在所述工作件上的动作磁柱闭合所述防护开关，且所述防护开关生成闭合参数，若所述闭合参数大于所述侦测器的预设阈值，所述侦测器发出异常信号。本申请提高芯片测试的可靠性。