一种电源IC芯片的测试装置

本实用新型属于IC芯片测试装置技术领域，具体公开了一种电源IC芯片的测试装置，包括固定座和盖体，盖体盖设于所述固定座上形成测试腔，测试腔的底部并排镶嵌有一排隔板，相邻两个隔板之间夹设有一组弹片，弹片的一端伸至测试腔内，弹片的另一端伸至固定座外并显露于固定座的底面。本实用新型通过在测试腔的底部设置一排隔板，且相邻两个隔板之间夹设有一组弹片，利用弹片的一端与测试腔内不同封装形式的电源IC芯片导电接触，弹片的另一端与测试电路板导电接触，实现电源IC芯片的测试，通过调整弹片的正装或倒装状态，以适应BGA、LGA等不同封装形式的电源IC芯片测试需求，大大提高了测试装置的兼容性，降低测试成本和时间。