一种存储芯片测试治具

本实用新型涉及存储芯片测试技术领域，尤其为一种存储芯片测试治具，包括支撑板，支撑板下端四角均固定连接有支撑柱，所述支撑板上端后部固定连接有固定板，所述固定板上端固定连接有顶板，所述顶板上端前部穿插连接有两个伸缩杆，两个所述伸缩杆的输出端共同固定连接有测试仪器，所述测试仪器前端设置有显示器，所述测试仪器左右两端均设置有连接头，所述支撑板上端前部设置有两个限位组件，两个所述限位组件左端均设置有固定螺杆，所述支撑板包括托板，所述托板左端穿插连接有承接板，所述承接板上端固定连接有通电板。本实用新型所述的一种存储芯片测试治具，通过设置的支撑板和限位组件，可以方便存储芯片的检测过程。