一种应用于存算一体芯片的测试系统

本实用新型提供一种应用于存算一体芯片的测试系统。该测试系统包括测试载板；在测试载板上设置有：芯片测试座；多个SATA接口，SATA接口电性连接于芯片测试座；JTAG接口，JTAG接口电性连接于芯片测试座；至少两个LAN接口，LAN接口电性连接于芯片测试座；多个PCIE接口，PCIE接口电性连接于芯片测试座；至少两个光纤接口，光纤接口电性连接于芯片测试座；电源接口，电源接口电性连接于芯片测试座。根据本实用新型，能够解决相关技术中高集成度存算一体芯片的性能测试效率低的问题。