一种用于芯片的高温测试控制系统

本实用新型公开了一种用于芯片的高温测试控制系统，包括芯片老炼测试板、上位机和控制电路，控制电路包括电源连接模块、DC‑DC变换器、多个测试座、多个数字转换芯片、管理控制模块BMC和串口，每个测试座均连接对应的一个数字转换芯片，每个测试座均内置对应的加热棒和温度采集探头；DC‑DC变换器与电源连接模块连接，每个测试座与DC‑DC变换器对应的每个电源电压输出端连接，每个加热棒均直连管理控制模块BMC，每个温度采集探头均接入至对应的每个数字转换芯片，每个数字转换芯片用spi接口接至管理控制模块BMC，管理控制模块BMC通过串口与上位机互联。本实用新型的高温测试控制系统方法简单，能便捷地控制大量的测试座加热温度用于芯片老炼测试，具备极高效率。