应用于芯片的测试装置

本申请实施例公开一种应用于芯片的测试装置，涉及芯片测试领域。本申请通过功能电路板的复用、降低硬件成本、缩短开发周期、增强灵活性和可扩展性，以及提高测试效率和准确性等方面，实现了对硬件资源的优化利用和测试成本的显著降低。