芯片测试装置

本申请提供一种芯片测试装置，用于固定待测芯片。芯片测试装置包括：固定支架及与固定支架连接的承载支架。待测芯片固定于承载支架。承载支架可绕固定支架转动以在第一测试状态与第二测试状态之间切换。在第一测试状态时，待测芯片正面朝上。在第二测试状态时，待测芯片背面朝上。本申请提供的芯片测试装置，承载支架可绕固定支架转动以使得当待测芯片正面测试完后，可以直接通过翻转承载支架便可将待测芯片翻面从而对待测芯片的背面进行测试，操作更为简便。