一种半导体芯片测试用可调节支架

本实用新型公开了一种半导体芯片测试用可调节支架，本实用新型涉及芯片测试技术领域。该半导体芯片测试用可调节支架，包括支架支架正下方限位设置有伺服电机，伺服电机有限位于支架顶部的安装柱，安装柱顶部转动安装有通过联轴器连接伺服电机输出端的测试模块，测试模块包括安装架，安装架内设置有嵌合槽，安装架转动安装有位于嵌合槽内的环形测试座，环形测试座整体为空心且其内壁上轴向排布扫描仪。本实用新型通过安装架在圆周运动的过程中其上的环形测试座跟随转动，因此环形测试座内的芯片以及扫描芯片的扫描仪均完成转动，环形测试座在水平转动的过程中依旧存在纵向转动，进一步扩大扫描仪的扫描范畴，保证半导体芯片封装测试中的全面性。