一种半导体芯片测试用限位装置

本实用新型属于芯片检测技术领域，具体公开了一种半导体芯片测试用限位装置，包括：底板、推板，所述底板的上表面设置有限位框架，所述限位框架设定为三条边，限位框架的三条边之间依次连接为U形状，且限位框架的前侧为开口状，所述限位框架中间的一条边内侧壁上开设有凹陷槽一，所述推板活动连接在凹陷槽一内，所述推板与限位框架的开口处位置相对应，所述限位框架中间的一条边外侧壁设置有安装支架，所述安装支架上安装有伸缩气缸。通过限位框架的设置，对芯片的三边进行限位阻挡，避免芯片从底板上侧移，在检测后，通过伸缩气缸的伸缩端及推板能够将芯片推出，芯片从限位框架的前侧开口处推出，方便取下。