一种调试系统

本实用新型实施例公开了一种调试系统，包括上位机和调试设备；调试设备包括控制主板和接口主板；上位机与控制主板电连接；接口主板包括联合测试工作组接口电路以及组合接口电路；联合测试工作组接口电路和组合接口电路用于连接具有不同测试接口的待测芯片；上位机通过控制主板，利用接口主板向连接的待测芯片发送预设调试信号，实现对待测芯片的调试，其中，预设调试信号由待测芯片的指令集架构确定得到。本申请通过在上位机中设置预设调试信号，并利用接口主板上集成的多种不同接口实现对不同的待测芯片的调试，解决了现有技术中的调试设备通用性较差，对具有特定指令架构集以及不同接口的芯片无法直接进行调试的技术问题。