一种测试针

本实用新型提供了一种测试针，包括有测试针本体，测试针本体包括有接触部，接触部下方设置有检测部，接触部与检测部之间通过连接件连接，连接件设置为沿检测部方向伸缩的弯曲状，并与接触部及检测部之间为一体化设置；检测部一侧与连接件连接，另一侧设置有检测头，测试针本体通过检测头与芯片接触。该测试针接触部位于上方，下方为检测部，二者通过呈沿检测部方向伸缩的弯曲状的连接件相连，且为一体化设置，并通过检测头实现与芯片的接触；连接件增强了测试针的稳定性与弹性控制，减小接触芯片时的弯曲度，保证电信号传输稳定，避免测试误差与数据不准确，提高芯片测试的可靠性和准确性。