一种适合闪存测试的拓展系统

本实用新型涉及闪存测试技术领域，具体涉及一种适合闪存测试的拓展系统，包括内存连接器、第一HUB集线器、第二HUB集线器、第一主控组以及第二主控组；所述内存连接器设有多个输入引脚以及多个输出引脚。本实用新型通过将多个主控测试芯片集成在一起，能够一次性对多个待测闪存进行测试，能够有效地提高测试效率；另外内存连接器具有数量较多的输入引脚以及输出引脚，主控测试芯片通过内存连接器后与待测闪存进行连接，能够充分利用主控测试芯片的测试输出端，从而能够一次性对多个待测闪存进行测试。