存储器检测系统

本实用新型属于存储器检测技术领域，且公开了存储器检测系统，包括存储器测试座和扣式盖体，还包括：检测结构，其设置于存储器测试座上，用于对存储器检测并分料；其中，检测结构包括测试平台，所述测试平台设置于存储器测试座的顶部，还包括输送结构，所述输送结构设置于存储器测试座上且位于测试平台的两侧，所述存储器测试座的内部开设有空腔，所述空腔的内部安装有固定杆，所述固定杆的外表面套接有活动架和复位弹簧，所述存储器测试座的内部设置有驱动马达，所述驱动马达输出轴的端部安装有输送轮。通过输送轮的旋转会带动存储器移动，并与存储器测试座分离，能够自动将合格的存储器芯片筛分出。