夹具和芯片老化实验设备

本实用新型公开了一种夹具和芯片老化实验设备，涉及芯片测试技术领域，其中，夹具包括基座和盖板，基座形成有多个固定槽，固定槽用以放置芯片，基座设有电源接头，盖板盖设于基座，盖板面向基座设有多个探针，每一探针对应一固定槽设置，探针的部分结构位于固定槽的开口方向上，多个探针均连接电源接头；本实用新型提供的技术方案中，在进行芯片老化实验时，将多个芯片分别固定在多个固定槽内，压下盖板使得探针与芯片的P电极接触，插上电源接头即可通电实现老化实验，本设备可同时满足多个芯片的老化实验需求，具有更高的实验效率。