一种芯片测序装置及测序仪

本实用新型公开了一种芯片测序装置及测序仪。芯片测序装置包括芯片流动池件和温控部件，芯片流动池件设有试剂腔、第一进液口和第一出液口，通过第一进液口能向试剂腔内注入试剂，通过第一出液口能将试剂腔内的试剂排出，试剂腔的顶部开口，试剂腔的底面上设有用于放置开放式测序芯片的芯片放置槽，温控部件能加热或者冷却芯片流动池件。该芯片测序装置设有用于安装开放式测序芯片的芯片流动池件，如此设置使得浸没式物镜的使用成为可能，浸没式物镜的成像模块能够伸入试剂内，对开放式测序芯片进行图像采集，提高了测序通量。待测序完成后试剂能够从第一出液口排出，能够减少废液残留。温控部件能够实现对芯片流动池件进行升降温。