存储芯片测试组件

本实用新型属于芯片测试技术领域,具体公开了存储芯片测试组件,包括基座，所述基座的顶面安装有用于放置存储芯片并进行测试的测试板，所述测试板的一侧两端均安装有铰接座，所述铰接座通过连接件铰接有防护框，所述测试板的凹槽内安装有用于固定存储芯片的固定组件，所述固定组件包括与所述测试板固定连接的方向杆，所述方向杆的顶面转动连接有转动块，所述转动块的顶面中部通过铰链铰接有安装块，所述安装块的内壁滑动连接有限位块，所述测试板远离所述铰接座的一端安装有用于对存储芯片进行测试的测试组件。本实用新型通过测试板与防护框铰接以及测试板与L型板铰接，便于在芯片测试完成前后对测试板板面以及凹槽进行清理，节省了时间。